特許
J-GLOBAL ID：201703004364758867
クラスタ分析方法、クラスタ分析装置及びコンピュータプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人 ユニアス国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-028063
公開番号（公開出願番号）：特開2014-157491
特許番号：特許第6172788号
出願日： 2013年02月15日
公開日（公表日）： 2014年08月28日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 コンピュータが実行する方法であって、
複数の設計変数を有するサンプル点を複数生成するステップと、
生成した複数のサンプル点について各々の設計変数に基づきタイヤ性能に関する第1の特性値および第2の特性値を算出するステップと、
前記第1の特性値を表すx座標軸および前記第2の特性値を表すy座標軸を有する二次元平面に対して前記複数のサンプル点をプロットした場合に、前記複数のサンプル点について前記第1の特性値と前記第2の特性値との間に相関関係が存在するか否かを判定するステップと、
相関関係が存在すると判定された場合に、各サンプル点の回帰直線及び当該回帰直線に直交する直交方向を特定するステップと、
前記直交方向に対する角度が前記x座標軸及び前記y座標軸のいずれよりも小さくなるように新たなt座標軸を決定するとともに、前記t座標軸に直交するs座標軸を決定するステップと、
前記複数のサンプル点について各々のサンプル点の第1の特性値及び第2の特性値を、前記s座標軸における値および前記t座標軸における値に座標変換するステップと、
前記複数のサンプル点について、前記t座標軸における値を評価対象とし、当該評価対象の値が近似するサンプル点同士を同一のクラスタに分類するクラスタ分析を行うステップと、を含むクラスタ分析方法。
IPC (2件)：
G06F 17/50 ( 200 6.01)
, B60C 19/00 ( 200 6.01)
G06F 17/50 612 H
, B60C 19/00 Z
, G06F 17/50 604 A
