特許
J-GLOBAL ID：201703004597234809
補償光学システムの対応関係特定方法、補償光学システム、および補償光学システム用プログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
長谷川 芳樹
, 黒木 義樹
, 石田 悟
, 寺澤 正太郎
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-119858
公開番号（公開出願番号）：特開2014-236795
特許番号：特許第6040103号
出願日： 2013年06月06日
公開日（公表日）： 2014年12月18日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 二次元状に配列されたN個(Nは自然数)の領域を含む変調面に入射した光像の位相を空間的に変調する空間光変調器と、前記N個の領域に各々対応するN個のレンズが二次元状に配列されたレンズアレイ、並びに該レンズアレイによって形成されたM個(Mは自然数であり、M≦N)の集光スポットを含む光強度分布を検出する光検出素子を有し、前記空間光変調器から変調後の前記光像を受ける波面センサとを備え、前記空間光変調器に表示される位相パターンを、前記光強度分布から得られる前記光像の波面形状に基づいて制御することにより波面歪みを補償する補償光学システムにおいて、前記波面歪みの補償を実行中に、前記空間光変調器の前記領域と、前記波面センサに形成される前記集光スポットとの対応関係を特定する方法であって、
前記空間光変調器の前記N個の領域のうちの特定対象領域に、波面歪み補償用の位相パターンを表示させた状態で、前記光検出素子により前記光強度分布を検出する第1検出ステップと、
前記第1検出ステップの前又は後に、空間的に非線形な位相パターンを前記特定対象領域に表示させた状態で、前記光検出素子により前記光強度分布を検出する第2検出ステップと、
前記第1検出ステップと前記第2検出ステップとの間の前記光強度分布の変化に基づいて、前記M個の集光スポットのうち前記特定対象領域に対応する集光スポットを特定する第1特定ステップと
を備えることを特徴とする、補償光学システムの対応関係特定方法。
IPC (4件)：
A61B 3/103 ( 200 6.01)
, A61B 3/10 ( 200 6.01)
, G01J 9/00 ( 200 6.01)
, G02F 1/061 ( 200 6.01)
A61B 3/10 ZDM N
, A61B 3/10 R
, G01J 9/00
, G02F 1/061 503
