特許
J-GLOBAL ID:201703004623045068
異常診断システム
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人栄光特許事務所
公報種別:再公表公報
出願番号(国際出願番号):JP2016054498
公開番号(公開出願番号):WO2016-133100
出願日: 2016年02月17日
公開日(公表日): 2016年08月25日
要約:
異常診断システム(1)は、複数の構成部材からなる軸受(10)と、構成部材の異なる位置に設置され、周囲の信号を検出する複数のセンサ(21)、(22)、(23)と、複数のセンサ(21)、(22)、(23)からの出力される信号に基づき、転がり軸受(10)の異常、及び転がり軸受(10)の周囲に配置された装置の異常を診断する異常診断装置(30)と、を備える。
請求項(抜粋):
複数の構成部材からなる軸受と、
前記構成部材の互いに異なる位置に設置され、周囲の信号を検出する複数のセンサと、
前記複数のセンサからの出力される信号に基づき、前記軸受の異常、及び前記軸受の周囲に配置された装置の異常を診断する異常診断装置と、
を備える、異常診断システム。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (11件):
2G024AC01
, 2G024AD03
, 2G024BA22
, 2G024BA27
, 2G024CA11
, 2G024CA13
, 2G024CA17
, 2G024DA09
, 2G024EA11
, 2G024FA01
, 2G024FA14
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