特許
J-GLOBAL ID:201703004628086064
X線撮影方法、X線撮影装置及びX線画像システム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人光陽国際特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-142276
公開番号(公開出願番号):特開2015-013051
特許番号:特許第6102582号
出願日: 2013年07月08日
公開日(公表日): 2015年01月22日
請求項(抜粋):
【請求項1】 X線を照射するX線源と、
複数のスリットを有する第1格子及び第2格子と、
被写体を載置するための被写体台と、
照射されたX線に応じて電気信号を生成する放射線検出素子が2次元状に配置された放射線検出素子アレイが複数個配列されて構成されたX線検出器と、
を備えるタルボ干渉計またはタルボ・ロー干渉計を用いたX線撮影装置におけるX線撮影方法であって、
X線照射方向に見て、前記X線検出器における前記放射線検出素子アレイの接合部と前記被写体台上の被写体の関心領域とが重ならないように配置する配置工程と、
前記X線源により前記被写体にX線を照射してX線撮影を行う撮影工程と、
を含むX線撮影方法。
IPC (2件):
A61B 6/00 ( 200 6.01)
, A61B 6/06 ( 200 6.01)
FI (4件):
A61B 6/00 300 J
, A61B 6/06 331
, A61B 6/06 ZDM
, A61B 6/00 330 Z
前のページに戻る