特許

J-GLOBAL ID：201703005217716659

曲面を基準面とする三次元形状計測方法

発明者： 藤垣 元治 ,  坂口 俊雅 ,  氏家 涼汰
出願人/特許権者： 藤垣 元治
代理人 (1件)： あいわ特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-160644
公開番号（公開出願番号）：特開2017-040482
出願日： 2015年08月17日
公開日（公表日）： 2017年02月23日
要約：

【課題】基準面の移動が短くてすむ三次元形状計測方法を提供する。【解決手段】計測対象となる物体に格子投影し、位相解析を行う第1ステップと、注目画素に関して、位相解析によって得られた位相値から、キャリブレーションによりもとめた関係に基づいて、移動量を求める第2ステップと、位相値から、基準面上の位相値を求める第3ステップと、基準面上の位相値から基準面座標テーブルを用いて注目画素の三次元位置を特定する第4ステップと、第4ステップで特定した三次元位置に移動量を加算し、注目画素に写されている物体上の三次元位置の座標を求める第5ステップと、を備え、第1〜第5のステップを、全画素について行うことで、物体の形状計測を行う。【選択図】図5

請求項（抜粋）：

表面に二次元格子模様を有する曲面を有する基準面の三次元座標を求める第1ステップと、 初期位置における基準面の三次元座標を求める第2ステップと、 注目画素の前記二次元格子模様上の位相値を位相解析方法により読み取る第3ステップと、 前記第2ステップにより求めた三次元座標と前記第3ステップにより読み取った位相値とから、前記位相値に対して前記三次元座標を要素としてもつ基準面座標テーブルを作成する第4ステップと、 を含む基準面座標テーブル作成方法。

IPC (1件)：

G01B 11/25

FI (1件)：

G01B11/25 H

Fターム (14件)：

2F065AA53 ,  2F065BB01 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF06 ,  2F065FF07 ,  2F065FF09 ,  2F065FF61 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 多数の基準面を用いた形状計測方法および形状計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-127229   出願人：国立大学法人和歌山大学
• キャリブレーション方法、及び形状測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2013-238114   出願人：セイコーエプソン株式会社