特許
J-GLOBAL ID:201703006453437376

点字検査装置および方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 東京UIT国際特許業務法人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-114231
公開番号(公開出願番号):特開2017-219432
出願日: 2016年06月08日
公開日(公表日): 2017年12月14日
要約:
【課題】点字の認識のみならず,点字品質の評価を行う。【解決手段】対象物S上の点字Bに同軸落射照明装置10により照明して垂直上方から撮像装置30で撮像する。また,斜光照明装置20により斜めから照明して垂直上方から撮像装置30で撮像する。同軸落射照明および斜光照明のそれぞれの照明下で撮像した画像信号に基づき,点字の認識および点の三次元形状計測情報を作成し,この三次元形状計測情報,特に高さ情報に基づいて点字品質の判定をする。【選択図】図1
請求項(抜粋):
対象物の点字が表わされた表面に垂直な平行光を含む同軸落射照明光を照射する同軸落射照明装置, 点字が表わされた前記表面に,平行光を含む斜光照明光を斜めから照射する斜光照明装置, 点字が表わされた前記表面から垂直に反射する光を含む反射光による像を撮像する撮像装置, 前記同軸落射照明および斜光照明のそれぞれの照明下において前記撮像装置が撮像した画像信号に基づき,少なくとも,点字を構成する点の抽出,および点の三次元形状計測情報の作成を行う画像処理手段,ならびに 前記画像処理手段から得られる情報に基づいて,点字品質の判定を行う判定手段, を備える点字検査装置。
IPC (2件):
G01B 11/24 ,  G06T 1/00
FI (2件):
G01B11/24 K ,  G06T1/00 315
Fターム (28件):
2F065AA17 ,  2F065AA53 ,  2F065CC00 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065GG02 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057DA06 ,  5B057DA17 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB09 ,  5B057DC09 ,  5B057DC16
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 画像認識装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-147386   出願人:三洋電機株式会社
  • 表面検査方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2004-086124   出願人:住友金属鉱山株式会社
  • 点字検査装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2009-031748   出願人:株式会社アイエムイー

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