特許

J-GLOBAL ID：201703006993384506

微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム

発明者： ブルン マルクオレル ,  佐藤 一雅 ,  大森 真二 ,  勝本 洋一
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 渡邊 薫
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2013084878
公開番号（公開出願番号）：WO2014-122873
出願日： 2013年12月26日
公開日（公表日）： 2014年08月14日
要約：

標識物質を用いなくても、個々の微小粒子を精度よく識別し、分取することが可能な微小粒子分析装置及び微小粒子分析システムを提供する。 微小粒子分析装置に、複数の微小粒子を含む液が導入されるサンプル流路と、このサンプル流路の少なくとも一部に交流電場を形成するための第1の電極対と、第1の電極対間のインピーダンスを測定する測定部と、測定部で測定されたインピーダンスから微小粒子の特性値を算出する解析部と、測定部で測定されたインピーダンスのデータが、微小粒子に由来するものか否かを判定する判定部とを設ける。

請求項（抜粋）：

複数の微小粒子を含む液が導入されるサンプル流路と、 前記サンプル流路の少なくとも一部に交流電場を形成するための第1の電極対と、 前記第1の電極対間のインピーダンスを測定する測定部と、 前記測定部で測定されたインピーダンスから前記微小粒子の特性値を算出する解析部と、 前記測定部で測定されたインピーダンスのデータが、前記微小粒子に由来するものか否かを判定する判定部と、 を有する微小粒子分析装置。

IPC (1件)：

G01N 27/02

FI (1件)：

G01N27/02 E

Fターム (6件)：

2G060AA05 ,  2G060AD06 ,  2G060AF03 ,  2G060AF06 ,  2G060AG03 ,  2G060HE03