特許
J-GLOBAL ID:201703007027030230

測定装置および測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人深見特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-017231
公開番号(公開出願番号):特開2014-149194
特許番号:特許第6041691号
出願日: 2013年01月31日
公開日(公表日): 2014年08月21日
請求項(抜粋):
【請求項1】 蛍光体の光学的な性能を測定するための測定装置であって、 前記蛍光体に励起光を照射するための光源と、 前記蛍光体から所定距離だけ離して配置されるとともに、前記励起光のうち前記蛍光体を透過した光、および、前記励起光によって前記蛍光体で発生する蛍光を受光するための受光部と、 前記受光部によって受光された光を検出するための検出部とを備え、 前記受光部は、 前記励起光の照射方向に所定の長さを有する筺体と、 前記筺体の前記蛍光体の側に配置された光拡散部と、 前記筺体の前記光拡散部とは反対側に配置され、入射した蛍光を検出部へ導くための窓を含む、測定装置。
IPC (1件):
G01N 21/64 ( 200 6.01)
FI (1件):
G01N 21/64 Z
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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