特許
J-GLOBAL ID：201703007529424410
距離測定装置およびその校正方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
末成 幹生
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-060677
公開番号（公開出願番号）：特開2017-173173
出願日： 2016年03月24日
公開日（公表日）： 2017年09月28日
要約：
【課題】コストを抑えつつ精度の高い測距技術を得る。【解決手段】参照パルス光の検出信号が入力されるフィルタ1(203)と、フィルタ1(203)と中心周波数が異なり、測定パルス光の検出信号が入力されるフィルタ2(204)と、2つのフィルタの出力を足し算する足し算回路207と、足し算回路207の出力信号が入力されるA/Dコンバータ209と、A/Dコンバータ209の出力をFFT解析し、参照検出信号に対応する第1の分離信号と測定検出信号に対応する第2の分離信号を得る分離信号算出部211と、2つの分離信号の少なくとも一方の位相を特定の周波数における値に変換する変換処理部212と、特定の周波数における2つの分離信号の位相差と補正パラメータに基づき、対象物までの距離を算出する距離算出部213を備え、補正パラメータは、フィルタ1(203)とフィルタ2(204)に同時に参照パルス光を通し、得られた2つのフィルタ出力の位相差から算出される。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
予め定められた光路を伝搬した参照用のパルス光の検出信号が入力される第1の中心周波数を有する第1のバンドパスフィルタと、
対象物に照射され、前記対象物から反射された測距用のパルス光の検出信号が入力される第1の中心周波数と異なる第2の中心周波数を有する第2のバンドパスフィルタと、
前記第1のバンドパスフィルタに前記参照用のパルス光の検出信号が入力されることで得られる第1の信号と、前記第2のバンドパスフィルタに前記測距用のパルス光の検出信号が入力されることで得られる第2の信号とを混合し混合信号を得る混合回路と、
前記混合信号が入力されるA/Dコンバータと、
前記混合信号が入力された前記A/Dコンバータの出力をFFT解析し、前記第1の信号に対応する第1の分離信号と前記第2の信号に対応する第2の分離信号を得る分離信号算出部と、
前記第1の分離信号および前記第2の分離信号の少なくとも一方の位相を特定の周波数における値に変換する変換部と、
前記特定の周波数における前記第1の分離信号と前記第2の分離信号の位相差および補正パラメータに基づき、前記対象物までの距離を算出する距離算出部と
を備え、
前記補正パラメータの算出は、
前記参照用のパルス光の検出信号を前記第1のバンドパスフィルタに通すことで第1の校正用信号を得ると共に前記参照用のパルス光の検出信号を前記第2のバンドパスフィルタに通すことで第2の校正用信号を得、
前記第1の校正用信号と前記第2の校正用信号を前記混合回路で混合し、校正用混合信号を得、
前記校正用混合信号を前記A/Dコンバータに入力し、その出力を前記分離信号算出部においてFFT解析し、前記第1のバンドパスフィルタを通過した信号に対応する第1の校正用分離信号と前記第2のバンドパスフィルタを通過した信号に対応する第2の校正用分離信号を得、
前記変換部において前記第1の校正用分離信号および前記第2の校正用分離信号の少なくとも一方の位相を特定の周波数における値に変換し、
前記特定の周波数における前記第1の校正用分離信号と前記第2の校正用分離信号の位相差を求めることで行われる距離測定装置。
IPC (4件)：
G01C 3/06
, G01S 17/10
, G01S 7/497
, G01C 3/00
G01C3/06 120Q
, G01S17/10
, G01S7/497
, G01C3/00 120
2F112AD01
, 2F112BA06
, 2F112CA12
, 2F112DA04
, 2F112DA10
, 2F112DA17
, 2F112DA25
, 2F112DA30
, 2F112EA05
, 2F112FA07
, 2F112FA12
, 2F112FA32
, 5J084AA05
, 5J084AD01
, 5J084AD02
, 5J084BA04
, 5J084BA36
, 5J084BA51
, 5J084BB01
, 5J084BB14
, 5J084BB15
, 5J084BB31
, 5J084CA03
, 5J084CA22
, 5J084CA27
, 5J084CA33
, 5J084CA49
, 5J084CA51
, 5J084CA52
, 5J084CA53
, 5J084DA01
, 5J084DA07
, 5J084DA08
, 5J084DA09
, 5J084EA04
, 5J084EA08
, 5J084EA12
出願人引用 (3件)
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光波距離計と光源手段
公報種別：公開公報
出願番号：特願平4-356756
出願人：株式会社トプコン
-
光波測距儀
公報種別：公開公報
出願番号：特願2001-332060
出願人：ペンタックス株式会社, ペンタックスプレシジョン株式会社
-
距離測定装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2001-345022
出願人：株式会社ニコンジオテックス, 株式会社ニコン
審査官引用 (3件)
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光波距離計と光源手段
公報種別：公開公報
出願番号：特願平4-356756
出願人：株式会社トプコン
-
光波測距儀
公報種別：公開公報
出願番号：特願2001-332060
出願人：ペンタックス株式会社, ペンタックスプレシジョン株式会社
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距離測定装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2001-345022
出願人：株式会社ニコンジオテックス, 株式会社ニコン
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