特許
J-GLOBAL ID：201703007664525308
磁気特性測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-075302
公開番号（公開出願番号）：特開2017-187345
出願日： 2016年04月04日
公開日（公表日）： 2017年10月12日
要約：
【課題】磁性材料の磁気特性を測定する際の励磁周波数および磁束密度が大きくなっても、磁性材料の磁気特性を正確に測定できるようにする。【解決手段】低透磁率部30a〜30dを形成しない場合よりも、上ヨーク11・下ヨーク12の内周側の領域と外周側の領域の磁気抵抗Rmの差が小さくなるように、上ヨーク11・下ヨーク12の先端面の少なくとも相対的に内周側の領域に低透磁率部30a〜30dを形成する。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
単板の磁性体からなる試料の磁気特性を測定する磁気特性測定装置であって、
2つの脚部を有するヨークを有し、
前記2つの脚部の先端面は、前記試料の板面と対向するように配置され、
前記2つの脚部の基端は、磁気的に相互に結合され、
前記ヨークには、低透磁率部が形成され、
前記低透磁率部の比透磁率は、前記試料および前記ヨークの比透磁率未満であり、
前記試料を励磁することによって前記ヨークおよび前記試料に形成される閉磁路に沿うように前記ヨークを切断した場合の断面において、前記ヨークの内周側の磁気抵抗と外周側の磁気抵抗との差が、前記低透磁率部が形成されていない場合よりも小さくなるように、前記ヨークに前記低透磁率部が形成されていることを特徴とする磁気特性測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (19件)：
2G017AC09
, 2G017AD04
, 2G017AD05
, 2G017CA18
, 2G017CA19
, 2G017CB02
, 2G017CB11
, 2G017CB16
, 2G017CB23
, 2G053AA00
, 2G053AB02
, 2G053AB21
, 2G053AB23
, 2G053BA03
, 2G053BA15
, 2G053BC02
, 2G053BC07
, 2G053CA03
, 2G053DB01
