特許
J-GLOBAL ID:201703008057289715
弾性ゴム又は合成樹脂から成る本質的な構成要素を有するストリップ状の材料を放射線透視式に検査するための装置及び方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (5件):
江崎 光史
, 鍛冶澤 實
, 篠原 淳司
, 中村 真介
, 清田 栄章
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-167861
公開番号(公開出願番号):特開2017-049250
出願日: 2016年08月30日
公開日(公表日): 2017年03月09日
要約:
【課題】ストランド状又はストリップ状の材料の処理時に生産プロセスを更に改善する可能性を得ること。【解決手段】特に連続的に通過する、弾性ゴム又は合成樹脂から成る本質的な構成要素を有するストリップ状の材料3を検査するための放射線透視式の測定装置2を有し、前記材料3が搬送手段4を用いて供給可能である装置1において、前記測定装置2が断面全体を検出するために構成されているため、前記材料3内に存在する異物又は欠損を前記材料3におけるその大きさ、位置及び/又は方向に基づいて検出可能であること、及び当該装置1が、検出されたデータに基づき、前記異物又は前記欠損を含む前記断面の部分範囲と共に前記異物又は前記欠損を除去するための除去装置8を備えている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
特に連続的に通過する、弾性ゴム又は合成樹脂から成る本質的な構成要素を有するストリップ状の材料(3)を検査するための放射線透視式の測定装置(2)を有し、前記材料(3)が搬送手段(4)を用いて供給可能である装置(1)において、
前記測定装置(2)が断面全体を検出するために構成されているため、前記材料(3)内に存在する異物(7)又は欠損を前記材料(3)におけるその大きさ、位置及び/又は方向に基づいて検出可能であること、及び当該装置(1)が、検出されたデータに基づき、前記異物(7)又は前記欠損を含む前記断面の部分範囲(9)と共に前記異物(7)又は前記欠損を除去するための除去装置(8)を備えていることを特徴とする装置。
IPC (4件):
G01N 23/18
, G01N 23/04
, G01N 23/087
, G01N 23/16
FI (4件):
G01N23/18
, G01N23/04
, G01N23/087
, G01N23/16
Fターム (11件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA08
, 2G001GA04
, 2G001GA07
, 2G001JA09
, 2G001KA03
, 2G001KA05
, 2G001LA05
, 2G001MA05
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