特許

J-GLOBAL ID：201703008595752492

信号処理方法、検波方法および検波装置

発明者： 菊池 和朗 ,  セット ジ イヨン
出願人/特許権者： 国立大学法人 東京大学 ,  株式会社アルネアラボラトリ
代理人 (1件)： 速水 進治
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2014063588
公開番号（公開出願番号）：WO2014-189107
出願日： 2014年05月22日
公開日（公表日）： 2014年11月27日
要約：

二重偏波位相偏移変調(DP-PSK)信号に含まれるX偏波およびY偏波をそれぞれx成分およびy成分として規定される偏波に関する複数のストークスパラメータを取得する工程と、ポアンカレ球座標系において、前記各ストークスパラメータが規定する座標を、座標(0,1,0)、(0,0,1)、(0,-1,0)および(0,0,-1)を含む平面に正射影することで2次元コンステレーションダイアグラムを取得する工程と、を含む信号処理方法が提供される。

請求項（抜粋）：

二重偏波位相偏移変調(DP-PSK)信号に含まれるX偏波およびY偏波をそれぞれx成分およびy成分として規定される偏波に関する複数のストークスパラメータを取得する工程と、 ポアンカレ球座標系において、前記各ストークスパラメータが規定する座標を、座標(0,1,0)、(0,0,1)、(0,-1,0)および(0,0,-1)を含む平面に正射影することで2次元コンステレーションダイアグラムを取得する工程と、 を含む信号処理方法。

IPC (2件)：

H04B 10/61 ,  G02F 2/00

FI (2件)：

H04B9/00 610 ,  G02F2/00

Fターム (19件)：

2K102BA40 ,  2K102BC01 ,  2K102BD01 ,  2K102DC08 ,  2K102EA21 ,  2K102EB06 ,  2K102EB12 ,  2K102EB20 ,  2K102EB22 ,  5K102AA61 ,  5K102AD15 ,  5K102AH11 ,  5K102AH24 ,  5K102AH27 ,  5K102MH03 ,  5K102MH14 ,  5K102MH32 ,  5K102RD04 ,  5K102RD26