特許

J-GLOBAL ID：201703009317453944

光断層イメージング法、その装置およびプログラム

発明者： 白井 智宏
出願人/特許権者： 国立研究開発法人産業技術総合研究所
代理人 (4件)： 志賀 正武 ,  森 隆一郎 ,  飯田 雅人 ,  大浪 一徳
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2015076475
公開番号（公開出願番号）：WO2016-059939
出願日： 2015年09月17日
公開日（公表日）： 2016年04月21日
要約：

OCTによる計測では、被測定対象やその近傍の光学系内に分散が存在すると、その分解能は低下する。 測定光と参照光との間に位相差を導入せずに、第1のスペクトル干渉縞強度を取得し、続いて、πの位相差を導入して、第2のスペクトル干渉縞強度を取得し、その強度に基づき必要な演算を行い、分散による分解能が低下しない断層情報を取得する。 または、測定光と参照光とのスペクトル干渉縞強度から生成した、光源から射出された光の中心周波数ω’だけずれた2つの側帯波のスペクトル干渉縞強度に基づき必要な演算を行い、分散による分解能が低下しない断層情報を取得する。

請求項（抜粋）：

測定光と参照光との干渉光の情報により被測定対象の断層画像を生成するスペクトル強度干渉断層イメージング法であって、 光源と参照ミラーと分波合波器と分光素子と検出器とコンピュータ(表示装置付き)、および測定光と参照光の間に位相差πを発生させる手段を備え、 分光素子と検出器によって分光器が構成され、 光源から射出された光を分波合波器で分波し、 一の分波光が被測定対象に入射して反射した測定光と、他方の分波光が参照ミラーで反射した参照光とを、再び該分波合波器で合波して干渉させた干渉光のスペクトル干渉縞強度の情報を分光器によって取得し、 続いて、該測定光と、該参照光とを前記手段によりその光行路で位相差πだけずらし、再び該分波合波器で合波して干渉させた光のスペクトル干渉縞強度の情報を分光器によって取得し、 当該時系列に取得した2のスペクトル干渉縞強度の情報に基づいてフーリエ変換演算処理を行い、その結果得た複素数の虚部の信号位置の2倍の距離に現れた実部の信号位置から、被測定対象の断層画像を生成することを特徴とするスペクトル強度干渉断層イメージング法。

IPC (1件)：

G01N 21/17

FI (1件)：

G01N21/17 630

Fターム (21件)：

2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB08 ,  2G059BB12 ,  2G059BB15 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF02 ,  2G059FF04 ,  2G059GG02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059PP04