特許
J-GLOBAL ID：201703010285643590
残留応力推定方法及び残留応力推定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
是枝 洋介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-076783
公開番号（公開出願番号）：特開2017-187400
出願日： 2016年04月06日
公開日（公表日）： 2017年10月12日
要約：
【課題】ユーザの経験に左右されることなく、適切な解析範囲を設定することが可能な残留応力推定方法及び残留応力推定装置を提供する。【解決手段】 本残留応力推定方法では、塑性加工を施した構造物を測定することにより、構造物における結晶格子のひずみを反映した指標を取得し、取得された指標に基づいて結晶格子のひずみが生じた領域を特定し、特定された前記領域を残留応力を推定するための解析範囲として設定する。また、構造物の残留応力に関する計測値を取得し、設定された解析範囲における構造物の固有ひずみを近似するよう、計測値を用いて解析範囲における固有ひずみの分布を推定する。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
塑性加工を施した構造物を測定することにより、前記構造物における結晶格子のひずみを反映した指標を取得するステップと、
前記指標に基づいて結晶格子のひずみが生じた領域を特定し、特定された前記領域を残留応力を推定するための解析範囲として設定するステップと、
前記構造物から得られた残留応力に関する計測値に基づいて、前記解析範囲における前記構造物の固有ひずみを近似するよう前記解析範囲における固有ひずみの分布を推定するステップと、
推定された固有ひずみの分布に基づいて、前記構造物における残留応力を推定するステップと、
を有する、
固有ひずみに基づく残留応力推定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (10件)：
2G061AA01
, 2G061AB01
, 2G061AB05
, 2G061BA04
, 2G061BA07
, 2G061BA15
, 2G061CB20
, 2G061DA11
, 2G061DA12
, 2G061EA03
