特許
J-GLOBAL ID：201703010855909050

光断層撮像装置、光断層撮像装置の作動方法、及びプログラム

発明者：
伊藤 宏

伊藤 宏 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (9件)： 岡部 讓 ,  臼井 伸一 ,  越智 隆夫 ,  高橋 誠一郎 ,  吉澤 弘司 ,  齋藤 正巳 ,  木村 克彦 ,  田中 尚文 ,  三村 治彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-095586
公開番号（公開出願番号）：特開2017-202109
出願日： 2016年05月11日
公開日（公表日）： 2017年11月16日
要約：
【課題】OCT装置において、診断に影響を及ぼすような被検体像の近傍にゴーストが出現することを避ける。【解決手段】光源から射出された光より分割された測定光が照射された被検体からの戻り光と、射出された光より分割された参照光とを合波して得た干渉光より得られる断層情報に基づいて被検体像を含む断層画像を生成する画像生成手段と、被検体と、測定光を被検体に導く測定光学系との作動距離が所定の作動距離になるように、測定光学系を駆動する駆動手段と、測定光の光路長と参照光の光路長との差を所定の光路長差に調整する調整手段と、を有する光断層撮像装置において、測定光が測定光学系を構成する光学素子で反射した反射光と参照光との干渉により生じるゴーストが断層画像に出現しないように、調整手段を制御する制御手段を配する。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
光源から射出された光より分割された測定光が照射された被検体からの戻り光と、前記射出された光より分割された参照光とを合波して得た干渉光より得られる断層情報に基づいて被検体像を含む断層画像を生成する画像生成手段と、 前記被検体と、前記測定光を前記被検体に導く測定光学系との作動距離が所定の作動距離になるように、前記測定光学系を駆動する駆動手段と、 前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との差を所定の光路長差に調整する調整手段と、 前記測定光が前記測定光学系を構成する光学素子で反射した反射光と前記参照光との干渉により生じるゴーストが前記断層画像に出現しないように、前記調整手段を制御する制御手段と、 を有することを特徴とする光断層撮像装置。
IPC (2件)：
A61B 3/10 ,  G01N 21/17
FI (2件)：
A61B3/10 R ,  G01N21/17 630
Fターム (31件)：
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE17 ,  2G059FF02 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  4C316AA09 ,  4C316AB04 ,  4C316AB11 ,  4C316AB12 ,  4C316FA06 ,  4C316FA07 ,  4C316FA09 ,  4C316FA18 ,  4C316FB13 ,  4C316FY03 ,  4C316FY10 ,  4C316FZ01
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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