特許

J-GLOBAL ID：201703011051066545

RFフィルタのチューニングシステムおよびこれを用いたフィルタの製造方法

発明者： パク ナムシン ,  キム ジョンフェ ,  リー ドンヨン ,  ソ ガンヒ ,  ジョン ジョンユン ,  チョ サンファン ,  キム ドンチョン ,  キム サンユン ,  パク ヨンジン ,  キム オグォン
出願人/特許権者： ケイエムダブリュ インコーポレーテッド
代理人 (2件)： 大渕 美千栄 ,  布施 行夫
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-516511
公開番号（公開出願番号）：特表2017-537482
出願日： 2016年03月04日
公開日（公表日）： 2017年12月14日
要約：

RFフィルタの自動チューニングシステム及びこれを用いたフィルタの製造方法を開示する。共振素子を有する複数の空洞と、それぞれの共振素子に対応する位置にチューニング領域を有するカバーを含むRFフィルタをチューニングするRFフィルタのチューニングシステムにおいて、前記RFフィルタの空洞の共振特性を測定する測定装置と、前記共振特性に基づいて前記RFフィルタのチューニング値を計算する制御装置、及び前記制御装置によって計算されたチューニング値に基づいて前記RFフィルタをチューニングするチューニング装置を含み、前記チューニング装置は、前記RFフィルタの前記カバーを打撃することで、共振値を調整して前記RFフィルタをチューニングする打撃器を含むRFフィルタのチューニングシステムを提供する。【選択図】図6

請求項（抜粋）：

共振素子を有する複数の空洞と、それぞれの共振素子に対応する位置にチューニング領域を有するカバーを含むRFフィルタをチューニングするRFフィルタのチューニングシステムにおいて、 前記RFフィルタの空洞の共振特性を測定する測定装置と、 前記共振特性に基づいて前記RFフィルタのチューニング値を計算する制御装置、及び前記制御装置によって計算されたチューニング値に基づいて前記RFフィルタをチューニングするチューニング装置を含み、 前記チューニング装置は、前記RFフィルタの前記カバーの前記チューニング領域を打撃することで、共振値を調整して前記RFフィルタをチューニングする打撃器を含む RFフィルタのチューニングシステム。

IPC (2件)：

H01P 1/205 ,  H01P 7/04

FI (3件)：

H01P1/205 B ,  H01P1/205 J ,  H01P7/04

Fターム (6件)：

5J006HC01 ,  5J006HC22 ,  5J006LA25 ,  5J006LA27 ,  5J006ND05 ,  5J006NE11

引用特許：

審査官引用 (3件)

• キャビティ構造を有する無線周波数フィルタ
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2014-556492   出願人：ケーエムダブリュ・インコーポレーテッド
• 誘電体共振器の周波数調整装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-160299   出願人：日本特殊陶業株式会社
• 特許第6081626号