特許

J-GLOBAL ID：201703013496845440

光学分析装置

発明者： 三上 秀治
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (3件)： 平木 祐輔 ,  藤田 節 ,  渡辺 敏章
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2014069132
公開番号（公開出願番号）：WO2016-009548
出願日： 2014年07月18日
公開日（公表日）： 2016年01月21日
要約：

CARS顕微鏡の測定データから定量値を取得する従来の方法は、高速かつ正確にデータを取得することが困難であった。 そこで、非共鳴成分が混在したCARSスペクトルから定量情報を取得するため、スペクトルの極大、極小に相当する電場の絶対値の差を定量値とする光学分析装置とする。

請求項（抜粋）：

少なくとも2つの光源と、 前記少なくとも2つの光源から生成される光束を試料に照射する照射光学系と、 前記試料から生成されるコヒーレントアンチストークスラマン散乱光を検出する検出器と、 前記検出器の出力を取り込み、信号処理を行う信号処理部とを備え、 前記信号処理部は、前記検出器における、コヒーレントアンチストークスラマン散乱が極大になる波長と極小になる波長における前記コヒーレントアンチストークスラマン散乱の電場の絶対値の差に比例する値を演算し、出力することを特徴とする光学分析装置。

IPC (1件)：

G01N 21/65

FI (1件)：

G01N21/65

Fターム (23件)：

2G043AA01 ,  2G043BA14 ,  2G043BA16 ,  2G043CA04 ,  2G043CA05 ,  2G043DA05 ,  2G043DA06 ,  2G043EA04 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043FA06 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA05 ,  2G043HA07 ,  2G043HA09 ,  2G043JA04 ,  2G043KA01 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01