特許

J-GLOBAL ID：201703014299624730

光信号対雑音比測定装置及び光信号対雑音比測定方法

発明者： 小田 祥一朗 ,  吉田 節生 ,  原田 圭介
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人酒井国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-020118
公開番号（公開出願番号）：特開2017-139657
出願日： 2016年02月04日
公開日（公表日）： 2017年08月10日
要約：

【課題】OSNRを高精度に測定できるOSNR測定装置等を提供する。【解決手段】OSNR測定装置は、光電変換部と、第1の取得部と、第2の取得部と、デジタル変換部と、算出部とを有する。光電変換部は、光信号を電気信号に変換する。第1の取得部は、電気信号から信号強度を取得する。第2の取得部は、所定の周波数帯域の雑音強度を電気信号から取得する。デジタル変換部は、雑音強度をデジタル変換する。算出部は、信号強度とデジタル変換後の雑音強度とに基づき、光信号に対するOSNRを算出する。所定の周波数帯域は、デジタル変換する際に発生する折り返し雑音を含む周波数帯域である。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光信号を電気信号に変換する光電変換部と、 前記電気信号から信号強度を取得する第1の取得部と、 所定の周波数帯域の雑音強度を前記電気信号から取得する第2の取得部と、 前記雑音強度をデジタル変換するデジタル変換部と、 前記信号強度と前記デジタル変換後の前記雑音強度とに基づき、前記光信号に対する光信号対雑音比を算出する算出部と を有し、 前記所定の周波数帯域は、デジタル変換する際に発生する折り返し雑音を含む周波数帯域であることを特徴とする光信号対雑音比測定装置。

IPC (4件)：

H04B 10/075 ,  G01J 1/44 ,  G01J 1/00 ,  G01M 11/00

FI (4件)：

H04B9/00 175 ,  G01J1/44 M ,  G01J1/00 A ,  G01M11/00 T

Fターム (26件)：

2G065BA09 ,  2G065BB27 ,  2G065BC13 ,  2G065BC15 ,  2G065BC28 ,  2G065CA12 ,  2G065DA13 ,  2G086EE12 ,  5K102AA42 ,  5K102AD01 ,  5K102LA02 ,  5K102LA11 ,  5K102MA02 ,  5K102MB10 ,  5K102MC01 ,  5K102MD01 ,  5K102MD03 ,  5K102MH03 ,  5K102MH14 ,  5K102MH16 ,  5K102MH17 ,  5K102MH22 ,  5K102PC12 ,  5K102PC16 ,  5K102PH31 ,  5K102RD26