特許

J-GLOBAL ID：201703015685091920

検出装置および検出方法

発明者： 近藤 純司 ,  蔦田 広幸 ,  入江 恵
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 高村 順
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2015080942
公開番号（公開出願番号）：WO2016-189764
出願日： 2015年11月02日
公開日（公表日）： 2016年12月01日
要約：

検査の運用開始前の作業量を抑制しつつ、運用開始後において変状の検出精度を向上可能な検出装置を得ること。変状対象の特徴を示すパラメータを記憶する対象特徴記憶装置2と、パラメータを用いて、画像情報から変状対象候補を検出する対象検出部3と、変状対象候補を記憶する対象記憶部4と、対象記憶部4に記憶されている変状対象候補を表示する対象表示部5と、変状対象候補への校正情報の入力を受け付け、校正情報に基づいて、対象記憶部4に記憶されている変状対象候補を修正する校正入力部6と、校正入力部6で受け付けられた校正情報に基づいて、対象特徴記憶装置2に記憶されているパラメータを校正する対象特徴校正部7と、を備える。

請求項（抜粋）：

変状対象の特徴を示すパラメータを記憶する対象特徴記憶装置と、 前記パラメータを用いて、画像情報から変状対象候補を検出する対象検出部と、 前記変状対象候補を記憶する対象記憶部と、 前記対象記憶部に記憶されている前記変状対象候補を表示する対象表示部と、 前記変状対象候補への校正情報の入力を受け付け、前記校正情報に基づいて、前記対象記憶部に記憶されている前記変状対象候補を修正する校正入力部と、 前記校正入力部で受け付けられた前記校正情報に基づいて、前記対象特徴記憶装置に記憶されている前記パラメータを校正する対象特徴校正部と、 を備えることを特徴とする検出装置。

IPC (2件)：

G01N 21/954 ,  G01N 21/88

FI (2件)：

G01N21/954 A ,  G01N21/88 Z

Fターム (10件)：

2G051AA90 ,  2G051AB03 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051EA14 ,  2G051EB02 ,  2G051EC01 ,  2G051ED08 ,  2G051ED11 ,  2G051FA02