特許

J-GLOBAL ID：201703015809808683

外乱除去装置

発明者： 稗方 孝之
出願人/特許権者： 株式会社神戸製鋼所 ,  コベルコ建機株式会社
代理人 (3件)： 小谷 悦司 ,  小谷 昌崇 ,  西谷 浩治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-040046
公開番号（公開出願番号）：特開2017-157017
出願日： 2016年03月02日
公開日（公表日）： 2017年09月07日
要約：

【課題】距離画像から対象物を認識する際に不要となる外乱物を除去する。【解決手段】抽出部151は、測距センサ16が取得した各距離画像に対して、距離が小さい順に一つ以上の所定個数の画素を、外乱物の候補画素として抽出する。算出部152は、現フレームの距離画像中の各候補画素と、各候補画素に対応する過去フレームの距離画像中の各候補画素との時間的な変化の特徴を示す特徴量を算出する。除去部153は、算出部152により算出された特徴量が、所定の基準特徴量よりも大きな候補画素を、外乱物を示す画素として決定し、現フレームの距離画像から除去する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

認識対象となる対象物の周囲を飛来する粒状の外乱物を距離画像から除去する外乱除去装置であって、 周囲環境の距離分布を示す複数の距離画像を時系列に取得する測距センサと、 前記測距センサが取得した各距離画像に対して、距離が小さい順に一つ以上の所定個数の画素を、前記外乱物の候補画素として抽出する抽出部と、 現フレームの距離画像中の各候補画素と、前記各候補画素に対応する過去フレームの距離画像中の各候補画素との時間的な変化の度合いが大きいほど大きな値を示す特徴量を算出する算出部と、 前記算出部により算出された特徴量が所定の基準特徴量よりも大きな候補画素を、前記外乱物を示す画素として決定し、前記現フレームの距離画像から除去する除去部とを備える外乱除去装置。

IPC (5件)：

G06T 7/20 ,  E02F 3/43 ,  E02F 9/24 ,  G06T 5/00 ,  G06T 1/00

FI (5件)：

G06T7/20 A ,  E02F3/43 M ,  E02F9/24 B ,  G06T5/00 705 ,  G06T1/00 315

Fターム (32件)：

2D003AA01 ,  2D003AB03 ,  2D003AB04 ,  2D003BA07 ,  2D003BB11 ,  2D003CA02 ,  2D003DA04 ,  2D003FA02 ,  2D015GA03 ,  2D015GB04 ,  5B057AA19 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CE02 ,  5B057CE05 ,  5B057CE06 ,  5B057DA15 ,  5B057DA17 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC22 ,  5L096AA06 ,  5L096AA09 ,  5L096BA02 ,  5L096DA03 ,  5L096FA66 ,  5L096HA02 ,  5L096JA11