特許

J-GLOBAL ID：201703016243799378

軌跡測定装置、数値制御装置および軌跡測定方法

発明者： 長岡 弘太朗 ,  藤田 智哉 ,  小澤 正啓
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 酒井 宏明
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2013082742
公開番号（公開出願番号）：WO2015-083275
出願日： 2013年12月05日
公開日（公表日）： 2015年06月11日
要約：

移動対象に対して3軸以上の可動軸を有する機械の移動対象(40)の移動軌跡を測定する軌跡測定装置(10)において、可動軸間の軸間位相差を含む移動対象(40)への指令条件(C1)と、軸間位相差に基づいて生成された可動軸への指令信号(S1)と、指令信号(S1)に可動軸の位置が追従するように可動軸をフィードバック制御した際の可動軸の位置を示すフィードバック信号(S2)と、を用いて、可動軸のうちの2つの可動軸を座標軸とした平面における移動軌跡を、平面ごとに演算する軌跡演算部を、備える。

請求項（抜粋）：

移動対象に対して3軸以上の可動軸を有する機械の前記移動対象の移動軌跡を測定する軌跡測定装置において、 前記可動軸間の軸間位相差を含む前記移動対象への指令条件と、前記軸間位相差に基づいて生成された前記可動軸への指令信号と、前記指令信号に前記可動軸の位置が追従するように前記可動軸をフィードバック制御した際の前記可動軸の位置を示すフィードバック信号と、を用いて、前記可動軸のうちの2つの可動軸を座標軸とした平面における前記移動軌跡を、前記平面ごとに演算する軌跡演算部を、備えることを特徴とする軌跡測定装置。

IPC (2件)：

G05B 19/406 ,  B23Q 17/00

FI (3件)：

G05B19/4062 ,  B23Q17/00 E ,  B23Q17/00 A

Fターム (12件)：

3C029EE02 ,  3C029FF05 ,  3C269AB11 ,  3C269BB07 ,  3C269BB17 ,  3C269CC02 ,  3C269DD01 ,  3C269GG01 ,  3C269JJ10 ,  3C269QD03 ,  3C269QE07 ,  3C269QE35