特許
J-GLOBAL ID:201703016271814714

サンプル検出用デバイス、サンプル検出装置及びイオン電流の検出方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 松本 征二
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2015-233120
公開番号(公開出願番号):特開2017-099300
出願日: 2015年11月30日
公開日(公表日): 2017年06月08日
要約:
【課題】サンプルが検出孔を通過する時のイオン電流を検出する時に、サンプルが通過する位置を制御できるサンプル検出用デバイス、サンプル検出装置及びイオン電流の検出方法を提供する。【解決手段】基板、該基板に形成されたサンプルが通過する検出孔、該検出孔をサンプルが通過する時にサンプルの位置を制御するための少なくとも3以上のサンプル制御用電極、を含むサンプル検出用デバイス。【選択図】図3
請求項(抜粋):
基板、該基板に形成されたサンプルが通過する検出孔、該検出孔をサンプルが通過する時にサンプルの位置を制御するための少なくとも3以上のサンプル制御用電極、を含むサンプル検出用デバイス。
IPC (3件):
C12M 1/34 ,  G01N 15/12 ,  G01N 27/00
FI (3件):
C12M1/34 B ,  G01N15/12 B ,  G01N27/00 Z
Fターム (14件):
2G060AA06 ,  2G060AA15 ,  2G060AD06 ,  2G060AE17 ,  2G060AF01 ,  2G060FA14 ,  2G060FB02 ,  4B029AA07 ,  4B029BB02 ,  4B029BB06 ,  4B029BB20 ,  4B029CC01 ,  4B029FA09 ,  4B029FA15
引用特許:
審査官引用 (10件)
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引用文献:
審査官引用 (3件)

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