特許

J-GLOBAL ID：201703016913687541

検品処理装置、検品システム、商品マスタ登録装置、検品処理方法及びプログラム

発明者： 日高 康 ,  近藤 克彦 ,  小南 友宏
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (4件)： 棚井 澄雄 ,  森 隆一郎 ,  松沼 泰史 ,  伊藤 英輔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-069899
公開番号（公開出願番号）：特開2017-178574
出願日： 2016年03月31日
公開日（公表日）： 2017年10月05日
要約：

【課題】商品マスタへの自動登録機能付きの検品システムを提供する。【解決手段】検品処理装置は、検品対象商品と検品数量とを含む検品データと、当該検品データに含まれる検品対象商品および検品数量と一致する商品群を撮像した検品対象画像に基づいて、検品対象商品毎の画像を特定する商品画像決定部と、商品画像決定部が特定した画像を記憶部に登録する商品データ登録部と、記憶部が記憶する画像に基づいて、新たな検品データに対応する検品対象画像に含まれる商品を特定する照合部と、を備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

検品商品と検品数量とを含む検品データと、当該検品データに含まれる検品商品および検品数量と一致する商品群を撮像した検品対象画像に基づいて、前記検品商品ごとの画像を特定する商品画像決定部と、 前記商品画像決定部が特定した画像を記憶部に登録する商品データ登録部と、 前記記憶部が記憶する画像に基づいて、新たな検品データに対応する検品対象画像に含まれる商品を特定する照合部と、 を備える検品処理装置。

IPC (5件)：

B65G 1/137 ,  G01G 19/52 ,  G06Q 50/28 ,  G06T 1/00 ,  G06T 7/00

FI (5件)：

B65G1/137 E ,  G01G19/52 Z ,  G06Q50/28 ,  G06T1/00 280 ,  G06T7/00 300F

Fターム (40件)：

3F522AA02 ,  3F522BB06 ,  3F522CC08 ,  3F522FF02 ,  3F522FF24 ,  3F522FF27 ,  3F522GG18 ,  3F522GG24 ,  3F522GG33 ,  3F522GG48 ,  3F522HH02 ,  3F522HH13 ,  3F522HH22 ,  3F522HH26 ,  3F522HH30 ,  3F522LL43 ,  3F522LL57 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CH12 ,  5B057DA07 ,  5B057DA08 ,  5B057DA12 ,  5B057DA13 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC33 ,  5B057DC39 ,  5L049AA16 ,  5L096AA06 ,  5L096BA20 ,  5L096EA35 ,  5L096GA51 ,  5L096HA09 ,  5L096JA04 ,  5L096JA09 ,  5L096JA11 ,  5L096KA03