特許

J-GLOBAL ID：201703017709869181

電池制御装置

発明者： 内田 勝也 ,  星野 昌幸 ,  岡部 令 ,  金子 典広 ,  佐藤 誠
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (2件)： 酒井 宏明 ,  宮田 英毅
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-106411
公開番号（公開出願番号）：特開2017-125680
出願日： 2014年05月22日
公開日（公表日）： 2017年07月20日
要約：

【課題】組電池において劣化した二次電池を特定する。【解決手段】実施形態の電池制御装置は、記憶部と、特定部と、出力部と、を備える。記憶部は、組電池を構成する複数の二次電池の各々の時間遷移に伴う状態変化を記憶する。特定部は、記憶部に記憶された、組電池を構成する複数の二次電池の各々の時間遷移に伴う状態変化に基づいて、複数の二次電池の各々に対して、劣化を推測可能な特性値を算出し、複数の二次電池における、劣化を推測可能な特性値の平均値から所定の閾値以上離れている二次電池を特定する。出力部は、特定部により特定された二次電池について、劣化が生じた旨を出力する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

組電池を構成する複数の二次電池の各々の時間遷移に伴う状態変化を記憶する記憶部と、 前記記憶部に記憶された、前記組電池を構成する複数の二次電池の各々の時間遷移に伴う状態変化に基づいて、前記複数の二次電池の各々に対して、劣化を推測可能な特性値を算出し、前記複数の二次電池における、劣化を推測可能な特性値の平均値から所定の閾値以上離れている二次電池を特定する特定部と、 前記特定部により特定された前記二次電池について、劣化が生じた旨を出力する出力部と、 を備える電池制御装置。

IPC (4件)：

G01R 31/36 ,  H02J 7/00 ,  H01M 10/44 ,  H01M 10/48

FI (4件)：

G01R31/36 A ,  H02J7/00 Y ,  H01M10/44 P ,  H01M10/48 P

Fターム (34件)：

2G016CA03 ,  2G016CB00 ,  2G016CB05 ,  2G016CB06 ,  2G016CB11 ,  2G016CB31 ,  2G016CC01 ,  2G016CC03 ,  2G016CC04 ,  2G016CC07 ,  2G016CC10 ,  2G016CC12 ,  2G016CF06 ,  5G503BA03 ,  5G503BA04 ,  5G503BB01 ,  5G503CA01 ,  5G503CA11 ,  5G503CB11 ,  5G503EA08 ,  5G503FA19 ,  5G503GD03 ,  5G503GD04 ,  5H030AA01 ,  5H030AS01 ,  5H030AS06 ,  5H030AS08 ,  5H030BB27 ,  5H030FF22 ,  5H030FF41 ,  5H030FF43 ,  5H030FF44 ,  5H030FF52 ,  5H030FF67