特許
J-GLOBAL ID：201703018168995231
顕微鏡システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
上田 邦生
, 藤田 考晴
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-127508
公開番号（公開出願番号）：特開2015-001708
特許番号：特許第6161424号
出願日： 2013年06月18日
公開日（公表日）： 2015年01月05日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 試料が載置され、該試料の位置を調節可能な電動ステージと、
光源から発せられたレーザ光を走査するスキャナと、
該スキャナにより走査されたレーザ光を前記電動ステージ上の前記試料に集光する対物レンズと、
該対物レンズによるレーザ光の照射により前記試料において発生した蛍光を前記レーザ光の光路から分岐させる光路分岐部と、
該光路分岐部により前記レーザ光の光路から分岐された前記蛍光を検出して前記試料の画像を取得する画像取得部と、
前記試料に対して前記画像取得部により所定の視野範囲ごとに分割して取得する部分画像の取得位置を設定する取得位置設定部と、
前記光源と前記光路分岐部との間の光路上に配され、前記レーザ光の断面形状を変更可能な形状変更部と、
前記取得位置設定部によって設定された前記取得位置に合わせて前記電動ステージおよび/または前記スキャナにより前記視野範囲を移動させ、前記形状変更部により被写界深度を広げる方向にレーザ光の断面形状を変更して前記画像取得部により前記部分画像を取得させる制御部と、
前記取得位置ごとに取得された前記部分画像を配列してマップ画像を生成するマップ画像生成部とを備える顕微鏡システム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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