特許

J-GLOBAL ID：201703018424217527

金属の耐食性評価方法、金属材料の耐食性評価装置、金属材料の組成予測方法、金属材料の組成予測装置

発明者： 本棒 享子 ,  大橋 健也 ,  伊藤 将宏 ,  池田 光晴 ,  福間 剛士 ,  小林 成貴 ,  尾形 奨一郎
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： ポレール特許業務法人
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2013069728
公開番号（公開出願番号）：WO2015-011743
出願日： 2013年07月22日
公開日（公表日）： 2015年01月29日
要約：

本発明は、短時間にすきま腐食深さや孔食深さを見積もることができる耐食性評価方法及び評価装置を提供することを目的とする。 本発明の金属の耐食性評価方法は、評価対象の金属を使用環境の液中に浸漬した状態で前記金属の表面電位を計測して前記金属の表面電位分布を求め、前記表面電位分布に基づいて、前記金属のミクロ組織の表面電位差を算出し、算出した表面電位差のうち、最大の表面電位差を腐食評価の評価指標として、前記金属のすきま腐食の腐食速度、または孔食の腐食速度を予測することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

金属の耐食性評価方法であって、 評価対象の金属を使用環境の液中に浸漬した状態で前記金属の表面電位を計測して前記金属の表面電位分布を求め、 前記表面電位分布に基づいて、前記金属のミクロ組織の表面電位差を算出し、 算出した表面電位差のうち、最大の表面電位差を腐食評価の評価指標として、前記金属のすきま腐食の腐食速度、または孔食の腐食速度を予測することを特徴とする金属の耐食性評価方法。

IPC (4件)：

G01N 17/00 ,  G01Q 60/30 ,  G01N 33/20 ,  G01Q 30/14

FI (4件)：

G01N17/00 ,  G01Q60/30 ,  G01N33/20 N ,  G01Q30/14

Fターム (11件)：

2G050AA00 ,  2G050BA01 ,  2G050BA02 ,  2G050CA01 ,  2G050CA04 ,  2G050DA01 ,  2G050EB02 ,  2G050EC05 ,  2G055AA03 ,  2G055BA12 ,  2G055FA06