特許
J-GLOBAL ID：201703018533170875
磁気計測装置および磁気計測方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人東京国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-078917
公開番号（公開出願番号）：特開2017-190956
出願日： 2016年04月11日
公開日（公表日）： 2017年10月19日
要約：
【課題】ポンプ効率の向上によって被計測磁場の計測感度を向上させた磁気計測装置および磁気計測方法を提供する。【解決手段】磁気計測装置10は、気体原子11を封入して被計測磁場Bm中に配置される封入セル13と、気体原子11に照射されて気体原子11をスピン偏極させるポンプ光14を出射するポンプ光光源16と、スピン偏極した気体原子11a(11)と相互作用をするプローブ光17を出射するプローブ光光源18と、封入セル13に入射されるポンプ光14の進行方向に垂直な断面の面積を拡大させる光学素子19と、封入セル13を透過したプローブ光17を検出するプローブ光検出器21と、プローブ光検出器21で検出されたプローブ光17を解析して被計測磁場Bmの強度を導出する導出部22と、を備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
気体原子を封入して被計測磁場中に配置される封入セルと、
前記気体原子に照射されて前記気体原子をスピン偏極させるポンプ光を出射するポンプ光光源と、
スピン偏極した前記気体原子と相互作用をするプローブ光を出射するプローブ光光源と、
前記封入セルに入射される前記ポンプ光の進行方向に垂直な断面の面積を拡大させる光学素子と、
前記封入セルを透過したプローブ光を検出する第1検出部と、
前記第1検出部で検出された前記プローブ光を解析して前記被計測磁場の強度を導出する導出部と、を備えることを特徴とする磁気計測装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (4件)：
2G017AA13
, 2G017AD12
, 2G017AD15
, 2G017BA05
