特許
J-GLOBAL ID：201703019319995367
イメージの残差分析のためのシステム及び方法
ブラッドリー・エイ・フランダース
, ブラッドリー・エイ・フランダース について
イアン・エス・ロビンソン
イアン・エス・ロビンソン について
出願人/特許権者：
レイセオン カンパニー
レイセオン カンパニー について
代理人 (3件)： 伊東 忠重 , 伊東 忠彦 , 大貫 進介
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-517282
特許番号：特許第6122953号
出願日： 2013年05月29日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 イメージプロセッサーで、入力イメージが得られる入力データキューブを受け取り;
イメージプロセッサーで、前記入力データキューブにおける各空間ピクセルから1以上の基底ベクトルを求めることにより、残差イメージを得るために用いられる残差データキューブへ前記入力データキューブを変換し;
イメージプロセッサーで、前記残差イメージにおける各焦点面ピクセルのサンプルについて統計パラメーター値を決定し;
イメージプロセッサーで、前記残差イメージにおける各焦点面ピクセルの決定された統計パラメーター値と、残りの焦点面ピクセルの個別の決定された統計パラメーター値との比較に基づいて異常な焦点面ピクセルを特定し、
イメージプロセッサーで、特定された異常な焦点面ピクセルの各スキャンされたサンプルの残差値と前記入力データキューブにおける対応のスキャンされたサンプルの値を比較し、
イメージプロセッサーで、前記比較に基づいて異常な焦点面ピクセルのためのゲイン訂正値及びオフセット訂正値の少なくとも一つの推定値を決定し、
イメージプロセッサーで、前記ゲイン訂正値及び前記オフセット訂正値の少なくとも一つの推定値に基づいて前記入力データキューブを再構成し、
前記ゲイン訂正値が、特定された焦点面ピクセルのサンプルの入力シーン反射率の関数として、特定された焦点面ピクセルのサンプルの残差反射率に適合するようにプロットされたラインのスロープに基づいて決定され、
前記オフセット訂正値が、入力シーン反射率がゼロの時のプロットされたラインの値に基づいて決定される、イメージ処理のための方法。
IPC (5件)：
G01J 3/02 ( 200 6.01)
, G06T 5/00 ( 200 6.01)
, G01J 1/44 ( 200 6.01)
, G01J 1/00 ( 200 6.01)
, G01J 1/02 ( 200 6.01)
FI (5件)：
引用特許：
出願人引用 (4件)
-
異常画素判定方法、異常画素判定に基づく欠陥画素判定方法、放射線画像検出器、異常画素判定システム及び欠陥画素判定システム
公報種別：公開公報 出願番号：特願2008-241246 出願人：コニカミノルタエムジー株式会社 -
固体撮像装置
公報種別：公開公報 出願番号：特願2007-128073 出願人：三菱電機株式会社 -
X線画像補正方法およびX線検査装置
公報種別：公開公報 出願番号：特願2005-049151 出願人：株式会社島津製作所
Copyright (c) 2009 Japan Science and Technology Agency. All Rights Reserved