特許
J-GLOBAL ID：201703019573281781

干渉型光ファイバセンサ

発明者：
佐藤 陵沢

佐藤 陵沢 について


出願人/特許権者：
沖電気工業株式会社

沖電気工業株式会社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人きさ特許商標事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-044549
公開番号（公開出願番号）：特開2013-181789
特許番号：特許第6205680号
出願日： 2012年02月29日
公開日（公表日）： 2013年09月12日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 パルス光を出力する光源と、 特定の周波数の信号を発生する変調信号発生器と、 前記変調信号発生器が接続され、前記光源から出力された前記パルス光を前記特定の周波数だけシフトする光周波数シフタと、 前記光周波数シフタでシフトされた複数のパルス光を同じ光ファイバに入力する第1光カプラと、 測定信号を検出する複数のセンシングファイバと、 複数の前記センシングファイバの各々に接続され、接続された前記センシングファイバで検出された信号を含むビートを発生させる複数の第2光カプラと、 複数の前記センシングファイバから出力された信号から、前記測定信号を検知する復調器と、 を備え、 前記変調信号発生器は、 1つの前記センシングファイバで検出された信号が、周波数の異なる複数のビートにそれぞれ含まれるように、互いに異なる周波数を発生させ、 前記光周波数シフタは、 前記変調信号発生器から出力された前記互いに異なる周波数に基づいて前記パルス光を前記特定の周波数だけシフトするものであり、 前記第2光カプラは、 周波数の異なる複数のビートを同時に発生させるものであり、 前記センシングファイバは、 前記第1光カプラと何れかの前記第2光カプラとを通過したパルス光の位相を、前記測定信号に基づいて変調して出力することで、前記測定信号を検出するものである ことを特徴とする干渉型光ファイバセンサ。
IPC (2件)：
G01D 5/353 ( 200 6.01) ,  G01B 9/02 ( 200 6.01)
FI (2件)：
G01D 5/353 A ,  G01B 9/02
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (4件)
全件表示
引用文献：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (1件)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM