特許

J-GLOBAL ID：201703019902801465

熱物性測定方法及び熱物性測定装置

発明者： 天谷 康孝 ,  藤木 弘之 ,  金子 晋久 ,  山本 淳 ,  阿子島 めぐみ
出願人/特許権者： 国立研究開発法人産業技術総合研究所
代理人 (4件)： 志賀 正武 ,  森 隆一郎 ,  飯田 雅人 ,  大浪 一徳
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2014065040
公開番号（公開出願番号）：WO2015-025586
出願日： 2014年06月06日
公開日（公表日）： 2015年02月26日
要約：

簡便に精度の高い絶対熱電能や熱伝導率を得ることのできる熱物性測定装置及び熱物性測定方法を提供する。 温度T1の金属ブロックと温度T2の金属ブロックの間に接続することにより温度勾配を与えた金属試料4に交流電圧又は極性の異なる直流電圧を選択的に印加する直流・交流電圧発生器100と、直流・交流電圧発生器100により交流電圧を印加したときにおける金属試料4の中央部の温度変化と、極性の異なる直流電圧を印加したときにおける金属試料4の中央部の温度変化とを測定するための熱電対5と、熱電対5により測定された上記二つの温度変化を用いて金属試料4の絶対熱電能や熱伝導率を算出する演算部54とを備えた熱物性測定装置50を提供する。

請求項（抜粋）：

温度勾配を与えた導体若しくは半導体に交流電圧又は交流電流を印加して、前記導体若しくは半導体の第一の温度変化を測定する第一のステップと、 前記導体若しくは半導体に極性の異なる直流電圧又は直流電流を印加して、前記導体若しくは半導体の第二の温度変化を測定する第二のステップと、 前記第一及び第二のステップで測定された前記第一及び第二の温度変化を用いて前記導体若しくは半導体の絶対熱電能又は熱伝導率の少なくとも一方を算出する第三のステップとを有する熱物性測定方法。

IPC (2件)：

G01N 25/00 ,  G01N 25/18

FI (2件)：

G01N25/00 B ,  G01N25/18 E

Fターム (7件)：

2G040AB09 ,  2G040AB18 ,  2G040BA02 ,  2G040CA02 ,  2G040EA02 ,  2G040EA07 ,  2G040EC04