特許
J-GLOBAL ID:201703020509044642
測定装置、測定方法およびプログラム
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (3件):
杉村 憲司
, 福尾 誠
, 辻 啓太
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-066296
公開番号(公開出願番号):特開2017-183921
出願日: 2016年03月29日
公開日(公表日): 2017年10月05日
要約:
【課題】不均一コンスタレーションを用いた場合にも、変調誤差比の測定精度の低下を抑制する。【解決手段】本発明に係る測定装置10は、IQ平面において信号点が不均一に配置された不均一コンスタレーション上の信号点にデータがマッピングされた信号を受信し、受信信号と不均一コンスタレーション上の信号点との誤差を示す変調誤差比(MER)を測定するものであり、不均一コンスタレーションの一部の信号点に対応する受信信号について変調誤差比を測定する測定部14を備える。【選択図】図1
請求項(抜粋):
IQ平面において信号点が不均一に配置された不均一コンスタレーション上の信号点にデータがマッピングされた信号を受信し、受信信号と前記不均一コンスタレーション上の信号点との誤差を示す変調誤差比を測定する測定装置であって、
前記不均一コンスタレーションの一部の信号点に対応する受信信号について前記変調誤差比を測定する測定部を備えることを特徴とする測定装置。
IPC (2件):
FI (2件):
H04L27/00 A
, H04L27/00 G
Fターム (5件):
5K004AA08
, 5K004JA02
, 5K004JD04
, 5K004JD05
, 5K004JH06
引用特許:
引用文献:
審査官引用 (3件)
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RADIOENGINEERING
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Performance of comparison metrics on M-QAM OFDM systems with high power amplifier
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