特許
J-GLOBAL ID:201703021406079134
穀粒の品質測定装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
越川 隆夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-168623
公開番号(公開出願番号):特開2017-015720
出願日: 2016年08月30日
公開日(公表日): 2017年01月19日
要約:
【課題】穀粒の形態に応じて光路長を自動変更することで、各種形態の穀粒の品質測定を精度良くかつ効率的に行うことが可能な穀粒の品質測定装置を提供する。【解決手段】筐体の上部に設けられて穀粒が投入されるホッパと、該ホッパ内に投入された穀粒をその回転により搬送するインペラと、該インペラの下方に配設され所定量の穀粒が収容可能な試料測定部と、該試料測定部内の穀粒の品質を光学的に測定する測定手段と、ホッパに投入される穀粒の形態に応じて測定手段による透過光の光路長を変更可能な制御装置と、を備えることを特徴とする。光路長の制御は、光路長調整部材の電動による位置調整で行われる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
筐体の上部に設けられて穀粒が投入されるホッパと、該ホッパ内に投入された穀粒をその回転により搬送するインペラと、該インペラの下方に配設され所定量の穀粒が収容可能な試料測定部と、該試料測定部内の穀粒の品質を光学的に測定する測定手段と、前記ホッパに投入される穀粒の形態に応じて前記測定手段による透過光の光路長を調整可能な制御装置と、を備えることを特徴とする穀粒の品質測定装置。
IPC (2件):
G01N 21/356
, G01N 21/359
FI (2件):
Fターム (12件):
2G059AA01
, 2G059BB11
, 2G059CC09
, 2G059CC12
, 2G059DD12
, 2G059EE01
, 2G059EE12
, 2G059HH01
, 2G059JJ05
, 2G059KK01
, 2G059LL01
, 2G059NN02
引用特許: