用語
J-GLOBAL ID:201706004573567620
パターン欠陥
主題カテゴリー:
主題カテゴリー
用語の主な分野です
試験・検査
関連語 (2件):
ウエハ【IC】
(wafer (IC))
ウエハ【IC】 について
「ウエハ【IC】」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
リソグラフィー
(lithography)
リソグラフィー について
「リソグラフィー」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
上位語 (1件):
加工欠陥
(machining defect)
加工欠陥 について
「加工欠陥」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
シソーラスmap:
シソーラスmap
※学術用語集由来のみの同義語は表示されません
前のページに戻る
TOP
BOTTOM