研究者
J-GLOBAL ID:201801018052844104   更新日: 2024年06月28日

原田 哲男

ハラダ テツヲ | Harada Tetsuo
所属機関・部署:
職名: 教授
研究分野 (1件): 量子ビーム科学
研究キーワード (2件): EUVリソグラフィー ,  軟X線光工学
競争的資金等の研究課題 (7件):
  • 2019 - 2022 EUV波面シンセサイザの開発と実時間・超深度ナノイメージングへの応用
  • 2019 - 2022 共鳴軟X線反射率測定によるフォトレジストの反応分布評価手法の開発
  • 2015 - 2018 軟X線領域の薄膜の光学定数の精密測定
  • 2013 - 2016 高感度且つ低LWRを有する1Xnm級EUVレジストの開発
  • 2010 - 2012 EUV 干渉露光による 20nm以下の極微細パタン形成
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論文 (136件):
  • Takahiro Ueda, Marcio D. Lima, Tetsuo Harada, Takeo Watanabe, Takeshi Kondo. EUV durability of CNT pellicles for next-generation scanner. Japanese Journal of Applied Physics. 2024. 63. 3
  • Rikuya Imai, Shinji Yamakawa, Tetsuo Harada, Takeo Watanabe. Present Status of EUV Interference Lithography at NewSUBARU. Journal of Photopolymer Science and Technology. 2023. 36. 1. 53-59
  • Shinji Yamakawa, Tetsuo Harada, Koji Nakanishi, Takeo Watanabe. Characterization of Photoacid Generator Bound Resist with X-ray Absorption Spectroscopy at NewSUBARU. Journal of Photopolymer Science and Technology. 2023. 36. 1. 47-52
  • Atsunori Nakamoto, Shinji Yamakawa, Tetsuo Harada, Takeo Watanabe. Spatial Distribution Analysis of Polymers in Resist Thin Film by Reflection-mode Resonant Soft X-ray Scattering. Journal of Photopolymer Science and Technology. 2023. 36. 1. 41-45
  • Shuhei Iguchi, Tetsuo Harada, Shinji Yamakawa, Takeo Watanabe, Takeharu Motokawa. Spatial Distribution Imaging of Resist Thin Film with Micrometer Resolution using Reflection Type Soft X-ray Projection Microscope. Journal of Photopolymer Science and Technology. 2023. 36. 1. 25-30
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MISC (190件):
  • 原田哲男. EUVリソグラフィ用の実露光波長マスク検査装置の開発. レーザー研究. 2024. 52. 1
  • 原田 哲男. EUVリソグラフィ用の実露光波長マスク検査装置の開発-Development of At-Wavelength Mask Microscopes for EUV Lithography-「高出力短波長光源開発とその応用技術の進展」特集号. レーザー研究 = The review of laser engineering : レーザー学会誌 / レーザー学会 編. 2024. 52. 1. 31-35
  • 渡邊健夫, 原田哲男, 山川進二. EUVリソグラフィー技術開発の現状および今後の展開について. 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM). 2023. 70th
  • 篭島靖, 上杉健太朗, 亀島敬, 高橋幸生, 武市泰男, 竹内晃久, 原田哲男, 松本浩典, 三村秀和, 矢代航. 光学界の将来ビジョン X線・極端紫外光における真の回折限界に向けて. 光学. 2022. 51. 4
  • 中本敦啓, 山川進二, 原田哲男, 渡邊健夫. レジスト薄膜中の空間分布測定を目的とした軟X線反射型共鳴散乱の検討. X線分析討論会講演要旨集. 2022. 58th
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特許 (4件):
  • 短波長コヒーレント光源及び透過型の減光機構
  • 欠陥特性評価装置
  • 形状測定装置
  • パタン幅測定装置
学歴 (3件):
  • 2003 - 2007 東北大学 大学院工学研究科 応用物理学専攻 博士課程後期3年の課程
  • 2001 - 2003 東北大学 大学院工学研究科 応用物理学専攻 博士課程前期2年の課程
  • 1997 - 2001 東北大学 工学部
学位 (1件):
  • 博士(工学)
経歴 (6件):
  • 2024/04 - 現在 兵庫県立大学 高度産業科学技術研究所 所長
  • 2024/04 - 現在 兵庫県立大学 高度産業科学技術研究所 教授
  • 2019/04 - 2024/03 兵庫県立大学 高度産業科学技術研究所 准教授
  • 2008/10 - 2019/03 兵庫県立大学 高度産業科学技術研究所 助教
  • 2008/04 - 2008/09 東北大学 多元物質科学研究所 教育研究支援者
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