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J-GLOBAL ID：201802210143171890   整理番号：18A0426241

同時PIXEおよびPESA分析のためのChandigarhサイクロトロンにおけるイオンビーム施設の標準化【Powered by NICT】

Standardisation of the ion beam facility at Chandigarh cyclotron for simultaneous PIXE and PESA analysis

著者 (4件)： Verma Shivcharan (Department of Physics, Panjab University, Chandigarh 160014, India) ,  Mohanty Biraja P. (Department of BioPhysics, Panjab University, Chandigarh 160014, India) ,  Singh Karn P. (Department of Physics, Panjab University, Chandigarh 160014, India) ,  Kumar Ashok (Department of Physics, Panjab University, Chandigarh 160014, India)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻： 417  ページ： 60-64  発行年： 2018年 
JST資料番号： H0899A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 可変エネルギーサイクロトロン(VEC)Panjab大学,インド,チャンディーガルでの陽子ビーム施設は,種々の環境,生物学的及び工業的試料の荷電粒子励起X線分析(PIXE)分析に用いられている。しかしPIXE法は,炭素,窒素,酸素,ふっ素のような低Z元素の情報を提供しない。生物学的及び環境試料の迅速多元素分析のための増加した必要性の結果として,PIXE施設はPIXE及びプロトン弾性散乱分析(PESA)を用いた同時測定を容易にするために,アップグレードし標準化した。PIXEとPESA技術の両方を個別に較正し,標準化した。最後に,装置はいくつかの多層薄膜試料に2.7MeVの2mm直径の陽子ビームを用いた同時PIXEおよびPESA測定を実行することによって試験した。得られた結果は,PIXEおよびPESA測定間の優れた一致を示し,実験装置の適切な感度と精度を確認した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *イオンビーム ,  多層膜 ,  インド ,  フッ素 ,  多元素分析 ,  窒素 ,  *サイクロトロン ,  炭素 ,  *標準化 ,  酸素 ,  弾性散乱 ,  陽子ビーム ,  環境試料 ,  同時計測 ,  陽子

著者キーワード (5件)： 粒子励起X線発光分析 ,  陽子弾性散乱解析 ,  標準化 ,  Chandigarhサイクロトロン ,  H評価

分類 (2件)： 放射化学的分析一般  (CC06010J) ,  金属,合金の放射化学的分析  (CC06040Q)

タイトルに関連する用語 (6件)： PIXE ,  分析 ,  サイクロトロン ,  イオンビーム ,  施設 ,  標準化