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J-GLOBAL ID：201802210418988998   整理番号：18A1805485

電子バンチ電荷決定のためのシンチレーションスクリーンのキャリブレーションとクロス実験室実装【JST・京大機械翻訳】

Calibration and cross-laboratory implementation of scintillating screens for electron bunch charge determination

著者 (15件)： Kurz Thomas (Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf, Bautzner Landstrasse 400, 01328 Dresden, Germany) ,  Couperus Jurjen Pieter (Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf, Bautzner Landstrasse 400, 01328 Dresden, Germany) ,  Kraemer Jakob Matthias (Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf, Bautzner Landstrasse 400, 01328 Dresden, Germany) ,  Ding Hao (Ludwig-Maximilians-Universitaet Muenchen, Am Coulombwall 1, 85748 Garching, Germany) ,  Kuschel Stephan (Helmholtz-Institut Jena, Frobelstieg 3, 07743 Jena, Germany) ,  Kohler Alexander (Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf, Bautzner Landstrasse 400, 01328 Dresden, Germany) ,  Zarini Omid (Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf, Bautzner Landstrasse 400, 01328 Dresden, Germany) ,  Hollatz Dominik (Helmholtz-Institut Jena, Frobelstieg 3, 07743 Jena, Germany) ,  Schinkel David (Helmholtz-Institut Jena, Frobelstieg 3, 07743 Jena, Germany) ,  D’Arcy Richard (Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, Notkestrasse 85, 22607 Hamburg, Germany) ,  Schwinkendorf Jan-Patrick (Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, Notkestrasse 85, 22607 Hamburg, Germany) ,  Osterhoff Jens (Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, Notkestrasse 85, 22607 Hamburg, Germany) ,  Irman Arie (Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf, Bautzner Landstrasse 400, 01328 Dresden, Germany) ,  Schramm Ulrich (Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf, Bautzner Landstrasse 400, 01328 Dresden, Germany) ,  Karsch Stefan (Ludwig-Maximilians-Universitaet Muenchen, Am Coulombwall 1, 85748 Garching, Germany)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 89  号： 9  ページ： 093303-093303-8  発行年： 2018年 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 一般的に用いられているシンチレーションスクリーンの較正を修正し,例えば,レーザプラズマ加速器から,高い電荷密度と異なるタイプのスクリーンを含む新しい拡張測定に基づいて,以前の研究[Buckら,Vol.81033301(2010)]を含む。10nC/mm2までの電子ピーク電荷密度を,Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorfにおける高輝度と低エミッタンス(ELBE)をもつビームに対する電子ライナックにより供給された集束ピコ秒長電子ビームにより提供した。低い電荷密度では,線形シンチレーション応答が見られ,nC/mm2の範囲で飽和の開始が続いた。この線形領域における絶対較正因子(光子/sr/pC)は,以前の較正で行った電荷測定におけるより高い電荷を示すBuckらによって報告されたものよりもほぼ2倍低いと測定された。良い一致は,Glinecらによって提供された結果と,[Rev.Sci.Instrum77,103301(2006)]によって見出された。さらに,約50nC/mm2の積分線量での長期照射試験は,時間とともにシンチレーション効率の著しい減少を示した。最後に,実験室間の絶対較正の移動を可能にするために,新しい一定の参照光源を開発した。Copyright 2018 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *スクリーン ,  *シンチレーション ,  電子ビーム ,  エミッタンス ,  光子 ,  加速器 ,  線形加速器 ,  *電荷 ,  線形性 ,  レーザプラズマ ,  集束 ,  ピコ秒
準シソーラス用語： 高輝度 ,  電荷密度 ,  *電子バンチ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 電子ビーム,イオンビーム  (BD02030F) ,  スペクトル計測及びスペクトロメータ  (AD08030U)

タイトルに関連する用語 (5件)： 電子バンチ ,  電荷 ,  キャリブレーション ,  実験室 ,  実装