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J-GLOBAL ID：201802211166553111   整理番号：18A0733728

電子材料とディスプレイ材料の開発動向 有機EL素子内の電荷の様子をリアルタイムで測定-発光までのわずかな時間に起こる電荷状態を解明する新技術-

著者 (2件)： 宮前孝行 (産業技術総合研 ナノ材料研究部門) ,  高田徳幸 (産業技術総合研 機能化学研究部門)
資料名： JETI  (JETI)
巻： 66  号： 5  ページ： 53-57  発行年： 2018年04月22日 
JST資料番号： F0013B  ISSN： 0289-4343  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・産業技術総合研究所が開発した有機EL素子内の電荷の様子をリアルタイムで測定する発光までのわずかな時間に起こる電荷状態を解明する新技術の紹介。
・非線形レーザー分光法である和周波発生分光法により有機EL素子にパルス電圧をかけた際に生成される有機カチオン主と有機アニオン種の生成・輸送・界面での電荷再結合挙動を数10ナノ秒スケールで計測する本計測手法。
・発光している有機EL素子内部の分子や電荷の状態をリアルタイムで評価できる本計測手法。
・次世代テレビやスマートフォンなどで用いられる有機EL素子の動作機構解明や長寿命化に貢献できる本計測手法。

シソーラス用語： *発光ダイオード ,  状態 ,  電荷 ,  スペクトロスコピー ,  再結合 ,  *計測
準シソーラス用語： *有機EL素子 ,  電荷状態 ,  和周波発生分光法 ,  電荷再結合

分類 (1件)： 発光素子  (NC03082G)

タイトルに関連する用語 (7件)： 電子材料 ,  ディスプレイ ,  開発動向 ,  有機EL素子 ,  電荷 ,  リアルタイム ,  電荷状態