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J-GLOBAL ID：201802211627802700   整理番号：18A1633779

単一粒子-誘導結合プラズマ-質量分析を利用した廃水処理施設内におけるナノ粒子の存在と除去の特性化

Characterizing the Occurrences and Removal of Nanoparticles in Wastewater Treatment Plants Using Single Particle-Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry

著者 (4件)： LI Chih-Hui (National Cheng Kung Univ., Tainan City, TWN) ,  LI Meng-Hen (National Cheng Kung Univ., Tainan City, TWN) ,  TSAI Hui-Ying (National Cheng Kung Univ., Tainan City, TWN) ,  HOU Wen-Che (National Cheng Kung Univ., Tainan City, TWN)
資料名： 環境化学討論会要旨集(CD-ROM)  (環境化学討論会プログラム集(CD-ROM))
巻： 27th  ページ： ROMBUNNO.1D-16(PA-46)  発行年： 2018年05月11日 
JST資料番号： L3491B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *水質汚濁 ,  *ナノ粒子 ,  廃水処理施設 ,  廃水処理 ,  キャラクタリゼーション ,  構造解析 ,  *ICP-MS分析
準シソーラス用語： 単粒子分析

分類 (2件)： 水質汚濁一般  (SB02010U) ,  下水・廃水処理施設  (SC03020P)

タイトルに関連する用語 (6件)： 単一粒子 ,  誘導結合プラズマ ,  質量分析 ,  廃水処理施設 ,  ナノ粒子 ,  特性化