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J-GLOBAL ID：201802211973272665   整理番号：18A0439483

SRAM PUFのチップ間minエントロピーの収束を推定するための方法【Powered by NICT】

Methods for Estimating the Convergence of Inter-Chip Min-Entropy of SRAM PUFs

著者 (5件)： Liu Hailong (School of Optics and Electronic Information, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Liu Wenchao (School of Optics and Electronic Information, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Lu Zhaojun (School of Optics and Electronic Information, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Tong Qiaoling (School of Optics and Electronic Information, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Liu Zhenglin (School of Optics and Electronic Information, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China)
資料名： IEEE Transactions on Circuits and Systems 1: Regular Papers  (IEEE Transactions on Circuits and Systems 1: Regular Papers)
巻： 65  号： 2  ページ： 593-605  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0226B  ISSN： 1549-8328  CODEN： ITCSCH  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 物理的複製不可能関数(PUF)に基づく暗号応用のために,PUF応答のエントロピーを正確に推定するために非常に重要である。文脈木重みづけのような圧縮アルゴリズムによる推定エントロピーの上限であるゆる過ぎ,最小エントロピー計算によって推定した下界は保守的過ぎる,試料サイズが小さい。実際の最小エントロピーはこれらの限界の間にあるが,正確に推定することは困難である。本論文では,二つのモデルは静的ランダムアクセスメモリ(SRAM)PUFのチップ間最小エントロピーの収束を推定するために提案した。基本的な考え方は,推定結果と試験済み試料サイズの期待値の間の関係を見出し,次に最小エントロピーの収束を予測した。さらに,誤り訂正のための可能な限り多くの応答を維持しながら改善されたvon Neumann抽出器はビット当たりのエントロピーを増大させるために使用した。実験結果は,提案した推定法の予測誤差は試験したSRAMチップの0.01/ビット以下であり,改善されたvon Neumann抽出器は従来法に比べて3/8で約11/16に必要な反応の数,2/3によるヘルパーデータの量,およびマスクの数を減らすことができることを示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 保全 ,  期待値 ,  重みづけ ,  *エントロピー ,  暗号 ,  *SRAM ,  抽出装置 ,  誤り訂正 ,  アルゴリズム ,  複製 ,  予測誤差 ,  RAM【メモリ】
準シソーラス用語： SRAMチップ ,  推定法 ,  下界 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 無線通信一般  (ND08010L)

タイトルに関連する用語 (4件)： SRAM ,  エントロピー ,  収束 ,  推定