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J-GLOBAL ID：201802212452706038   整理番号：18A1493775

粗大粒材の応力測定のための新しい回折装置の開発

著者 (3件)： 鈴木賢治 (新潟大) ,  菖蒲敬久 (原子力発電技術機構) ,  城鮎美 (量子科学機構)
資料名： X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集  (Proceedings of the Symposium on X-Ray Studies on Mechanical Behaviour of Materials)
巻： 52nd  ページ： 82-85  発行年： 2018年 
JST資料番号： F0605B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *X線応力測定 ,  X線回折 ,  固体粒子 ,  結晶粒 ,  結晶粒径 ,  シンクロトロン放射 ,  放射線 ,  X線検出器 ,  多重露光 ,  ビームライン ,  二次元 ,  アルミニウム合金 ,  残留応力 ,  高エネルギー放射線 ,  *二重露光 ,  A5052 ,  *粗粒子
準シソーラス用語： *粗大粒子 ,  放射光

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (3件)： 応力測定 ,  回折 ,  開発