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J-GLOBAL ID：201802212963355870   整理番号：18A1690463

低温でのLi_4Ti_5O_12ベースリチウムイオン電池の過充電耐久性【JST・京大機械翻訳】

Overcharge durability of Li₄Ti₅O₁₂ based lithium-ion batteries at low temperature

著者 (8件)： Wang Yu (State Key Laboratory of Automotive Safety and Energy, Tsinghua University, Beijing 100084, China) ,  Chu Zhengyu (State Key Laboratory of Automotive Safety and Energy, Tsinghua University, Beijing 100084, China) ,  Feng Xuning (State Key Laboratory of Automotive Safety and Energy, Tsinghua University, Beijing 100084, China) ,  Feng Xuning (Institute of Nuclear and New Energy Technology, Tsinghua University, Beijing 100084, China) ,  Han Xuebing (State Key Laboratory of Automotive Safety and Energy, Tsinghua University, Beijing 100084, China) ,  Lu Languang (State Key Laboratory of Automotive Safety and Energy, Tsinghua University, Beijing 100084, China) ,  Li Jianqiu (State Key Laboratory of Automotive Safety and Energy, Tsinghua University, Beijing 100084, China) ,  Ouyang Minggao (State Key Laboratory of Automotive Safety and Energy, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
資料名： Journal of Energy Storage  (Journal of Energy Storage)
巻： 19  ページ： 302-310  発行年： 2018年 
JST資料番号： W3042A  ISSN： 2352-152X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 低温での容量の減少はリチウムイオン電池の更なる応用を制限する。本論文は,充電カットオフ電圧を増加させることによって,低温でのLi_4Ti_5O_12(LTO)ベースのリチウムイオン電池の容量損失を補償するためのアプローチを紹介した。その後,電池の耐久性に及ぼすこのアプローチの影響を検討し,劣化に対する「傾斜点」電圧を観測した。チッピング点(3.2V)上のカットオフ電圧は厳しい劣化を引き起こし,一方,チッピング点の下のそれらはそうではない。劣化機構を,増分容量(IC)曲線解析,予後および機構(P&M)モデルおよび走査電子顕微鏡/X線エネルギー分散分光計(SEM/EDS)試験により研究し,電池が3.2Vに過充電されたとき,LTOアノードの電位が1V以下に低下することを示した。電解質は還元電位を超え,LTO表面上で分解し,ガス発生を伴う固体電解質界面(SEI)膜を形成する。アノード電位は電池を充電し続けると1V以上に徐々に上昇するが,カソード電位は4.6Vを超え,電解質の酸化とカソード中の活性物質の損失をもたらす。全体として,2.7Vから3.2Vへのカットオフ電圧の増強は,わずかな劣化で-20°CでのLTO電池の充電容量(9.5%)を拡大するのに効果的である。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 固体電解質 ,  *電池 ,  走査電子顕微鏡 ,  *充電 ,  界面 ,  カソード ,  アノード ,  *リチウムイオン電池 ,  *耐久性 ,  電池容量 ,  臨界電圧 ,  電圧 ,  電子顕微鏡観察 ,  *低温 ,  電位
準シソーラス用語： 容量損失 ,  *過充電 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： リチウムイオン電池 ,  LTO ,  老化機構 ,  低温 ,  過充電

分類 (1件)： 二次電池  (YB04030K)

タイトルに関連する用語 (3件)： 低温 ,  リチウムイオン電池 ,  過充電