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J-GLOBAL ID:201802213312265902   整理番号:18A0288974

表面増強共焦点Raman顕微分光法を用いたAPTES自己組織化単分子層の深さプロファイリング【Powered by NICT】

Depth profiling of APTES self-assembled monolayers using surface-enhanced confocal Raman microspectroscopy
著者 (6件):
資料名:
巻: 184  ページ: 1-6  発行年: 2017年 
JST資料番号: E0128B  ISSN: 1386-1425  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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ガラス基板上に作製した3-アミノプロピルトリエトキシシラン(APTES)のような自己集合単分子層(SAM)の内部構造はナノメーターレベルで特性化し,解析することは困難である。本研究では,APTES SAMの内部分子構造を研究するための表面増強Raman分光法(SERS)を使用した。試料APTES SAMはAgナノ粒子を堆積したRaman信号を増強し,微妙な構造情報,密度汎関数理論計算によって支持された,を得た。添加では,高分解能解析,特に垂直方向を行うために,微細圧電ポジショナは0.1nmのステップで深さ走査を制御した。Ag/NH_2CH_2,SiOのような,APTESの特異的一群の垂直Raman強度変化高分解能を測定し,識別した。Ag APTESとAPTES SiO_2の二界面での界面結合を同定した。,APTES分子配向は周波数シフトから不均一であることを実証した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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有機化合物の赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル  ,  鉱物・岩石・鉱石の物理分析 
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