文献

J-GLOBAL ID：201802213839974506   整理番号：18A1700395

シリコン熱光学係数の精密測定による非接触温度測定の高精度化

著者 (3件)： 亀田朝輝 (広島大 大学院) ,  花房宏明 (広島大 大学院) ,  東清一郎 (広島大 大学院)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 79th  ページ： ROMBUNNO.21a-233-4  発行年： 2018年09月05日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ケイ素 ,  熱光学効果 ,  非接触測定 ,  温度測定 ,  反射率 ,  *屈折率 ,  赤外レーザ ,  波形 ,  *表面温度
準シソーラス用語： *過渡反射率 ,  光反射率

分類 (1件)： 光物性一般  (BM08010A)

タイトルに関連する用語 (7件)： シリコン ,  光学 ,  係数 ,  精密測定 ,  非接触 ,  温度測定 ,  高精度化