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J-GLOBAL ID：201802214416964003   整理番号：18A0874033

高層時系列回路信頼性推定手法に関する研究進展【JST・京大機械翻訳】

Survey on Reliability Estimation Methods of Sequential Circuit in Height-level

著者 (3件)： Ouyang Chengtian (江西理工大学信息工程学院 gan州341000) ,  Chen Lili (江西理工大学信息工程学院 gan州341000) ,  Wang Xi (江西理工大学信息工程学院 gan州341000)
資料名： Jisuanji Kexue  (Jisuanji Kexue)
巻： 44  号： z2  ページ： 33-38,54  発行年： 2017年 
JST資料番号： C2530A  ISSN： 1002-137X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 時系列回路の信頼性は,ますます人々の焦点になった。高水準の時系列回路の信頼性評価の方法を検討し,ベイズ信頼性解析,多段階信頼性解析,および確率伝達マトリックスに基づく時系列回路信頼性解析の方法を詳細に検討した。ISCAS89ベンチマーク回路を実験対象として、いくつかの典型的な高層時系列回路の信頼性評価方法を選び、実験と分析を行った。研究結果と実験結果は、回路の抽象レベルが高いほど、評価方法が獲得した結果の正確性が低く、評価時間のコストが小さいほど、同じ抽象レベルにおいて、異なるタイプの方法と比べ、シミュレーションシミュレーション方法の正確性は高いが、時間のコストが大きく、解析方法が省いた時、精度が低いことを示した。......................................................Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： シミュレーション ,  信頼性解析 ,  転送行列 ,  *上層
準シソーラス用語： 解析方法 ,  シミュレーション方法 ,  正確性 ,  ベンチマーク回路 ,  *回路信頼性 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： Sequential circuit ,  Reliability estimation ,  Simulation method ,  Model analytical method ,  Soft error

分類 (3件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  論理回路  (NC05070B) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (7件)： 高層 ,  時系列 ,  回路信頼性 ,  推定 ,  手法 ,  研究 ,  進展