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J-GLOBAL ID:201802215112608061   整理番号:18A2071311

コムギの播種品質に及ぼすパルス電子ビームの影響【JST・京大機械翻訳】

Influence of a Pulsed Electron Beam on the Sowing Quality of Wheat
著者 (6件):
資料名:
巻: 769  ページ: 172-180  発行年: 2018年 
JST資料番号: D0744C  ISSN: 1013-9826  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: スイス (CHE)  言語: 英語 (EN)
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播種パラメータを変えるために,200keVと305keVのパルス電子ビームによりコムギ粒を照射した。全微生物数,発芽および発芽エネルギーを,同じ範囲のエネルギー入力に対する電子運動エネルギー設定の両方に対して比較した。305keVの電子ビームは,4J/g以下のエネルギー入力値に対してより良い殺菌効果を示した。このモードは2J/g以上の照射後に種子発芽能力を除去し,穀物貯蔵に使用できる。200keVのビームのモードは,4J/g以上の照射エネルギー入力後に,類似の殺菌効果をもつ5J/gまでの種子発芽能力を維持した。このモードは播種前種子処理手順に使用できる。Copyright 2018 Trans Tech Publications Ltd. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (3件):
分類
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固体デバイス製造技術一般  ,  電子ビーム・イオンビームの応用  ,  非破壊試験 
タイトルに関連する用語 (3件):
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