抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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回帰試験選択は,試験者が適用の修正版を検証するとき,既存の試験の部分集合を選択することによってコスト節約を提供する。試験選択アプローチの大部分は静的または動的解析を利用し,どのテストケースを選択すべきかを決定し,これらの解析はしばしば非常に時間がかかる。本論文では,情報検索を用いて軽量解析を容易にする新しい言語独立回帰TEst選択(再試験)技術を提案した。再試験は,故障履歴,テストケース多様性,およびプログラム変化履歴情報を用いて,再実行されなければならないテストケースを選択する。4つのオープンソースプログラムによる経験的評価は,著者らのアプローチが既存の技術と比較して試験のはるかに小さいサブセットを選択することによって効果的で効率的であることを示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】