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J-GLOBAL ID：201802217329354334   整理番号：18A1280012

赤外線技術とその応用 赤外線・テラヘルツ波を用いた構造物の劣化診断技術

著者 (1件)： 福永香 (情報通信研究機構)
資料名： Optronics  (Optronics)
号： 439  ページ： 111-114  発行年： 2018年07月10日 
JST資料番号： Y0019A  ISSN： 0286-9659  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・テラヘルツ波時間領域イメージングについて解説。
・非破壊検査の分野で広く利用されている赤外線による構造物の局所的な温度差をサーモグラフィーで観測する手法を紹介。
・眼科検査や工業製品の非破壊検査にも活用されている光断層トモグラフィー(OCT)について紹介。

シソーラス用語： 故障診断 ,  *非破壊検査 ,  画像診断 ,  撮像 ,  サーモグラフィー ,  光干渉断層計 ,  構造物
準シソーラス用語： テラヘルツ波イメージング ,  OCT【光学器械】 ,  劣化診断

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (5件)： 赤外線 ,  応用 ,  テラヘルツ波 ,  構造物 ,  劣化診断