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J-GLOBAL ID：201802217701115271   整理番号：18A1688630

Compton後方散乱法による隠れた腐食の非破壊検査【JST・京大機械翻訳】

Non-destructive inspection of hidden corrosion through Compton backscattering technique

著者 (5件)： Margret M. (Radiological Safety Division, Indira Gandhi Centre For Atomic Research, Kalpakkam 603102, India) ,  Menaka M. (Quality Assurance Division, Indira Gandhi Centre For Atomic Research, Kalpakkam 603102, India) ,  Subramanian V. (Radiological Safety Division, Indira Gandhi Centre For Atomic Research, Kalpakkam 603102, India) ,  Baskaran R. (Radiological Safety Division, Indira Gandhi Centre For Atomic Research, Kalpakkam 603102, India) ,  Venkatraman B. (Health, Safety and Environment Group, Indira Gandhi Centre For Atomic Research, Kalpakkam 603102, India)
資料名： Radiation Physics and Chemistry  (Radiation Physics and Chemistry)
巻： 152  ページ： 158-164  発行年： 2018年 
JST資料番号： D0627A  ISSN： 0969-806X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究の目的は,Compton散乱γ線からの情報を用いて,腐食模擬Mild鋼における選択されたサイトでの隠された腐食を調べることである。提案した非接触法は,実際のフレームワークの一部として137Cs源とHPGe検出器を採用し,MCAシステムと統合した。腐食を反映する散乱γ線を試料の走査中に実時間でマッピングした。点走査による点を,パルス高さスペクトルを得るために行い,データを用いて既知の試験物体の厚さを決定し,したがって,厚さ較正を達成した。基礎としてキャリブレーションを用いて,サブ表面における隠れた腐食を検出し,解析した。再構成アルゴリズムを,次の層における腐食定量化の良好な精度で,この提案した研究のために説明した。精度はX線撮影と透過結果と同等である。実験的測定とそれらの結果は,Mild鋼における4mm(1.76mmから2.29mmまでの範囲の腐食)の深さへの隠れた腐食を強く確認した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： γ線 ,  *後方散乱 ,  セシウム137 ,  パルス ,  *非破壊検査 ,  Compton散乱 ,  *散乱 ,  ラジオグラフィー ,  *腐食 ,  スペクトル ,  高純度Ge検出器 ,  走査 ,  鋼 ,  X線検査
準シソーラス用語： 非接触 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： Compton散乱 ,  隠れた腐食 ,  軟鋼 ,  HPGE検出器 ,  伝送 ,  ラジオグラフィー

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (3件)： 後方散乱 ,  腐食 ,  非破壊検査