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J-GLOBAL ID：201802217819227571   整理番号：18A1808499

低密度ポリエチレンフィルムにおける電荷安定性に及ぼす再結晶領域の影響【JST・京大機械翻訳】

The Influence of Recrystallization Regimes on Electret Charge Stability in Low-Density Polyethylene Films

著者 (4件)： Rychkov Andrey (Department of Industrial and Designer Technologies, Herzen State Pedagogical University of Russia, St-Petersburg, Russia) ,  Stojharov Valery (Department of Industrial and Designer Technologies, Herzen State Pedagogical University of Russia, St-Petersburg, Russia) ,  Kuznetsov Alexey (Department of Industrial and Designer Technologies, Herzen State Pedagogical University of Russia, St-Petersburg, Russia) ,  Rychkov Dmitry (Applied Condensed-Matter Physics, University of Potsdam, Potsdam, Germany)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： ICD  ページ： 1-4  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 非極性半結晶性高分子におけるエレクトレット状態安定性は,結晶/非晶質相界面に位置するトラップによって大きく決定される。このように,そのような重合体の熱履歴は,それらのエレクトレット特性にかなり影響を及ぼすはずである。本研究では,再結晶が低密度ポリエチレンコロナエレクトレットにおける電荷安定性にどのように影響するかを調べた。急冷試料におけるエレクトレット電荷安定性は遅く結晶化したものより高いことが分かった。これは,より小さい結晶子サイズを持つ試料におけるより深いトラップの数の増加により説明できる。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 相境界 ,  熱履歴 ,  非極性 ,  *再結晶 ,  半結晶性高分子 ,  *電荷 ,  結晶粒径 ,  急冷 ,  *結晶 ,  結晶化 ,  エレクトレット ,  非晶質 ,  重合体

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 低密度ポリエチレン ,  フィルム ,  電荷 ,  安定性 ,  再結晶