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J-GLOBAL ID：201802218314984663   整理番号：18A0707790

次世代主メモリのための持続可能な故障管理と誤り訂正【JST・京大機械翻訳】

Sustainable fault management and error correction for next-generation main memories

著者 (3件)： Kline Donald (Electrical and Computer Engineering, University of Pittsburgh) ,  Melhem Rami (Computer Science, University of Pittsburgh) ,  Jones Alex K. (Electrical and Computer Engineering, University of Pittsburgh)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IGSC  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 技術ノードがスケールを続けているので,主メモリはエネルギー消費の増加と信頼性の課題の両方を経験する。低い特徴サイズにおけるプロセス変動により,クロストークのような降伏と実行時間の影響を伴う問題による故障率の上昇に対処するために,ビットレベルでの改良された補正能力がますます重要になっている。この挑戦に取り組むために,深くスケールされたメモリにおける誤差補正に対する持続可能なアプローチを提案した。特に,信頼性を改善するために全体的エネルギー考慮を目標とする新しい面積効率的で持続可能な故障マップ(SFaultMap)を提案した。SFaultMapの有効性を実証するために,全体的エネルギー消費に基づく持続可能性研究を行い,どのシナリオが採用されるべきかを評価した。すべての場合において,中程度から高い故障率を有するシナリオにおいて,SFaultMapは,5年の寿命に対して,誤り訂正ポインタ(ECP)上のエネルギーを減少させた。さらに,故障率が増加するにつれて,ECPのための非差分時間は,上昇前の製造エネルギーを回復するために,数年から数十年まで増加する。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *記憶装置 ,  信頼性 ,  *誤り訂正 ,  エネルギー消費 ,  *故障 ,  クロストーク ,  故障率 ,  *主メモリ
準シソーラス用語： ポインタ ,  持続可能性 ,  面積効率 ,  実行時間 ,  プロセス変動 ,  *故障管理 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 次世代 ,  主メモリ ,  故障管理 ,  誤り訂正